半导体封装引线键合检测案例

由于引线接合可在 IC 芯片和封装之间建立牢固可靠的连接，因此它对于半导体功能至关重要。此应用专注于检查半导体中的引线接合缺陷。

出现哪些制造缺陷？

然而，引线键合是一种精细的制造工艺，可能会产生以下缺陷：

由于此类缺陷会影响最终设备的功能和可靠性，甚至导致彻底失效，因此必须对引线键合进行严格的控制和检查。

实施严格的检查实践和质量控制措施对于减轻这些风险并确保生产可靠、安全的半导体至关重要。

但引线键合缺陷很难检测——它们可能很微妙、很复杂，而且类型和位置各不相同。传统的机器视觉需要编写数百条手工规则，无法检测与编程参数不匹配的新缺陷或可变缺陷。引线键合材料具有反射性，因此很难发现缺陷。人工检测员和传统的机器视觉系统都无法区分反射表面和实际缺陷，从而导致误报和漏报。

解决方案

UnitX 的人工智能检测可以有效检测出其他解决方案无法实现的引线键合缺陷。 

首先，OptiX 成像系统照亮并成像引线键合。然后，CorteX Central AI 平台针对引线键合缺陷进行训练。最后，将这些 AI 模型部署到 CorteX Edge 推理系统以在线检测和分类缺陷。

为什么选择 UnitX 来进行引线键合检测？

OptiX 提供出色的图像，可最大限度地降低反射率，同时最大限度地提高缺陷的可见度。 它有 32 个独立通道可控的光源，可以通过软件针对引线键合表面和各种缺陷进行优化。它的计算成像能力可用于拍摄多张照片并消除由高反射引线键合表面引起的热点。它的穹顶打光系统设计支持投射光的非常锐利的入射角，即使是非常微小的缺陷也会投射阴影，从而提高其可见度。

CorteX 可准确检测随机、复杂的缺陷。 它可自动标准化位置和方向的变化，并识别像素级缺陷。

UnitX 支持快速实验并适应生产环境的变化。 . OptiX 照明可通过软件轻松配置，而 CorteX AI 模型具有样本效率——它们只需要少量图像即可针对新缺陷类型进行训练。

UnitX 提供快速、100% 在线检查。 OptiX具有高亮的 LED 和 1m/s 的快速飞拍能力，可实现高速成像。CorteX Edge 支持高推理速度（高达 100 MP），可快速输出 OK/NG 决策，并通过集成到所有主要 PLC、MES 和 FTP 系统无缝传达该决策。

通过 UnitX，制造商可以防止引线键合缺陷，从而避免芯片故障、可靠性降低和声誉影响。他们以生产速度实现自动化检查，以提高半导体芯片的产量和产量。